福祿克
威爾遜
美國Buehler
物理材料實驗室設(shè)備
標準樣品和壓樣環(huán)
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功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)DT10-華普通用
專業(yè)測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態(tài)時間參數(shù)特性，測試范圍可達3500V 4000A -
Keithley 4200A-SCS半導體參數(shù)分析儀-華普通用
使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)先電學特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓 -
BUCHI Pure 制備色譜系統(tǒng)-華普通用
Pure色譜儀非常的緊湊，確保最高水平的安全性并且易于應用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。 -
德國SPECTRUMA GDA 150 HR輝光放電質(zhì)譜儀
GDA 150 HR和GDA 650 HR GDOES光譜儀是用于質(zhì)量控制和研究的強大工具，旨在處理全天候工作，同時保持良好的可維護性。GDA 150 HR主要用于研究您的導電樣品，在分析性能方面絲毫不遜于其兄弟GDA 650 H -
德國SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀
GDOES光譜儀GDA 550 HR和GDA 750 HR是最強大的GDOES光譜儀，非常適合研發(fā)任務(wù)。基于模塊化概念，可以設(shè)想多種選項組合，因此可以為您的應用實現(xiàn)最佳配置。GDA 550 HR主要用于研究您的導電樣品。GDA 7